• Document: Глава 2 МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОМАТЕРИАЛОВ И НАНОСИСТЕМ
  • Size: 1.07 MB
  • Uploaded: 2019-04-16 16:26:26
  • Status: Successfully converted


Some snippets from your converted document:

Глава 2 МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОМАТЕРИАЛОВ И НАНОСИСТЕМ Среди разнообразных методов исследования наноматериалов и наносистем особый интерес представляют такие, которые позволяют выявлять индивиду- альные нанообъекты, например, наночастицы путем непосредственной реги- страции их размерных параметров, а также получать их изображения. К чис- лу последних относятся, прежде всего, методы микроскопии высокого раз- решения, которые иногда называют методами наноскопии. Из них в практи- ческом отношении наиболее важными являются два метода: сканирующая туннельная микроскопия и атомно-силовая микроскопия. Лежащие в основе реализации этих методов зонды специальной конструкции являются уни- кальными инструментами, применяемыми не только для исследования, но также для получения различных видов наноматериалов и наносистем. К числу других методов, широко используемых в практике исследования структуры и свойств наноматериалов и наносистем, относятся методы ди- фракционного и спектрального анализа. 2.1. Просвечивающая электронная микроскопия Электронные микроскопы по своему принципиальному устройству имеют много общего с оптическими микроскопами. Вместе с тем электронные мик- роскопы обладают гораздо большей разрешающей способностью. В них для изображения объектов используют волновую природу быстро движущихся электронов. Стеклянным линзам, используемым в оптическом микроскопе, в электронном микроскопе соответствуют электрические или магнитные лин- зы; матовой пластинке, на которой может быть визуализировано изображе- ние, соответствует флуоресцирующий экран. В электронных микроскопах вме- сто лучей света используются пучки электронов, которые эмитируются като- дом, нагреваемым путем пропускания электрического тока, и ускоряются за счет высокого напряжения. Различают просвечивающие и сканирующие электронные микроскопы (ПЭМ и СЭМ соответственно). В СЭМ можно исследовать компактные об- разцы, в то время как в ПЭМ исследуемые образцы должны быть настолько тонкими, чтобы сквозь них проникали электроны. 52 Конструкция ПЭМ показана на рис. 2.1. Как и 1 оптический микроскоп, он из осветителя 2 (электронная пушка плюс конденсорная лин- 3 за), объектива (объективная линза) и окуляра 4 (проекционная и промежуточная линзы). Электронная пушка состоит из трех основных 5 частей: источника электронов – катода, управ- 6 ляющего электрода и анода. Катод в большин- 7 стве случаев представляет собой вольфрамо- вую проволоку, накаливаемую пропусканием 8 через нее электрического тока

Recently converted files (publicly available):