• Document: Лекция 3. Атомно-силовая микроскопия.
  • Size: 434.73 KB
  • Uploaded: 2018-12-08 11:19:26
  • Status: Successfully converted


Some snippets from your converted document:

Лекция 3. Атомно-силовая микроскопия. Возможности и общие принципы сканирующей зондовой микроскопии. Контактная атомно-силовая микроскопия. Неконтактная и полуконтактная атомно-силовая микроскопия. Распечатать лекцию Возможности и общие принципы сканирующей зондовой микроскопии Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) представляет собой инструмент для получения изображений с большим динамическим диапазоном разрешений, выходящим за пределы возможностей оптических и электронных микроскопов. В некоторых случаях сканирующие зондовые микроскопы позволяют не только получать изображение топографии поверхности, но и измерять и картировать такие физические свойства, как проводимость поверхности, распределение статического заряда, намагниченность отдельных участков, локальное трение и упругие модули. Соответственно, сферы применения СЗМ весьма разнообразны. Сканирующие зондовые микроскопы представляют собой семейство измерительных приборов, применяемых для изучения поверхности материалов на масштабах от единиц нано- до сотен микрометров. Принципиальная схема СЗМ представлена на рис. 1. Рис. 1. Схематичное изображение обобщенного варианта СЗМ Устройство позиционирования, называемое сканером, перемещает образец относительно зонда (или наоборот, зонд относительно образца), а регистрирующая система фиксирует данные о контрасте изображения в каждой точке поверхности, собираемые зондом. В зависимости от того, как устроен зонд и каким образом формируется информация о поверхности, в СЗМ выделяют два подсемейства методов: это сканирующая туннельная микроскопия, в которой зонд - это заостренная проводящая проволока, и силовая микроскопия, где используются кантилеверы - микроскопические балки с остриями на конце. Изображения, получаемые в СЗМ, часто называют сканами. Сканы всегда представляют собой графическую визуализацию матрицы данных. Номер строки и столбца в матрице определяет положение точки на поверхности, а значение элементов матрицы - контраст изображения в данной точке. Обычно программное обеспечение сразу выдает двумерную графическую репрезентацию данных — монохромное изображение, состоящее из отдельных точек (pixels), интенсивность цвета в каждой точке соответствует значениям элементов матрицы. Под «монохромным изображением» необязательно понимать черно-белое, просто имеется в виду, что цвет отражает всего один параметр — высоту рельефа поверхности, или проводимость, или намагниченность и т. п. Современное ПО может строить и трехмерные изображения поверхности (т. е. трехмерные модели, которые можно вращать на экране компьютера). Важно понимать, что при практической работе с СЗМ нужно хранить не только красивые изображения в формат

Recently converted files (publicly available):